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Technology:
Reactive Ion Etching
13.56 MHz Plasma Excitation
Fluor based Process
Parallel Plate Reactor
Shower Head Gas Inlet
Results:
Rate : > 25 nm/ min
Uniformity: <= +/- 4.5 % (4")
anisotropic etch
smooth walls
(etch process: Uni Bochum,
Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
deposition processes: Universität der Bundeswehr,
Institut für Physik, Lehrstuhl für Mikrosystemtechnik
left SEM published in J. of Material Science) |